WBLH-200J 高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號：WBLH-200J

產品簡介
   本儀器采用了渦流測厚方法，可*損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
測定方法:高頻渦流式
測定對象:非磁性金屬上*緣層
測定范圍:電磁式：0～800um或0～32.0mils
測定精度:<50um±1um  >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um
界限設定:可設定上/下限數值
測試單位:公/英制互換
顯示方式:LCD數顯
操作面板:密封*水按鍵
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個
體積:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g